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Halbleiter und Mikroelektronik

Halbleiter und Mikroelektronik

Sauerstoff und Kohlenstoff in Wasser

Die Bestimmung des Sauerstoff- und Kohlenstoffgehalts in Silizium mithilfe der FT-IR-Spektrometrie ist schnell, präzise, nicht destruktiv, kontaktlos und relativ preisgünstig. Außerdem lässt sich die Bestimmung auch mit nur geringen theoretischen Kenntnissen über die Funktionsweise des verwendeten Geräts durchführen.

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Metrologische Instrumente

Beim weltweit führenden Anbieter von Analysegeräten erhalten Sie eine Reihe von metrologischen Instrumenten für Produktionsentwicklung und Prozesskontrolle, ESD- und Latch-Up-Simulatoren für die zuverlässige Herstellung von Leiterplatten mit 256 bis 1024 Pins, Präzisionssysteme zur Temperierung von Flüssigkeiten für anspruchsvolle Produktionsumgebungen und Produkte für die Werksüberwachung.

Parallele, winkelabhängige XPS

Als erster Hersteller von Systemen zur parallelen, winkelabhängige Photoelektronspektroskopie (XPS) für das Mapping von chemischen Zuständen und der Stärken von Ultra-Dünnfilm-Materialien bietet Thermo Fisher Scientific das Theta 300 für die Analyse von 300-mm-Wafern an. 

>>Theta 300 Anwendungen

Services für Laborinstrumente

Maximieren Sie die Produktivität Ihrer Instrumente:

  • Chromatographie
  • Massenspektrometrie
  • Elementaranalyse
  • Molekularspektroskopie

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