K-Alpha : Spectromètre XPS monochromatisé

  K-Alpha : Spectromètre XPS monochromatisé



Nouvel instrument pour l'analyse de surface, le K-Alpha est un spectromètre de photoélectrons X (XPS) monochromatisé à petit spot.

   Détails sur le produit


La spectrométrie par photoélectrons X est déjà bien établie dans de nombreux domaines de la caractérisation des matériaux. L'XPS est devenu un outil essentiel pour le développement de surfaces à utilisation biomédicale et de nano-matériaux. Des performance de pointe, un coût de propriété réduit, une simplicité d'utilisation et une taille compacte font du K-Alpha la solution idéale pour de nombreux domaines existants mais aussi de nouvelles applications d'analyse de surface. Le K-Alpha est conçu pour fonctionner en environnement multi-utilisateurs et est le premier spectromètre XPS capable de proposer une automatisation complète depuis l'introduction de l'échantillon jusqu'à la production du rapport final.

Trois modes d'utilisation pour un maximum de flexibilité

  • Un mode totalement automatisé pour minimiser l'intervention des utilisateurs 
  • Un mode "recette" pour l'analyse de routine
  • Un mode expert, totalement interactif

Le K-Alpha est capable de faire des analyses de petites comme de grandes zones. Pour l'analyse de petites zones et une cartographie XPS, le faisceau de rayons X monochromatisé est focalisé sur un petit spot permettant d'obtenir une résolution latérale de 30 µm. Le canon à ions à basse énergie fait partie intégrante du K-Alpha et permet de faire du profil en profondeur. Sa dispersion à basse énergie combinée à une rotation azimuthale permet d'obtenir des profils en profondeur d'une excellente résolution.

Configuration

  • XPS à microfocalisation pour des analyses rapides et efficaces
  • Détermination précise de l'état chimique 
  • Sélection continue de la taille du spot
  • Dommage minimal pour les échantillons 
  • Simplicité de l'alignement
  • Possibilité de cartographie des "linescans"

  • Une optique élaborée maximise la précision et l'efficacité
  • Lentille : haute efficacité, nouvelle conception
  • Analyseur d'énergie : haute résolution.
  • Acquisition parallèle et balayage
  • Acquisition snapshot pour profil rapide et imagerie
  • Analyse rapide 
  • Excellent seuil de détection

  • Navigation précise pour une utilisation simple
  • Confiance dans la position.
  • Système d'éclairage unique 
    • Coaxial pour les surfaces réfléchissantes 
    • Diffus pour les sufaces brutes
  • Système de visualisation unique 
    • Vue du porte-échantillons pour la navigation entre échantillons 
    • Optique réflective pour un meilleur alignement
    • Réglage de la hauteur de l'échantillon
    • Possibilité d'annotation des zones analysées 
    • Navigation et alignement des échantillons de type ‘Click and go’

  • Nouveau canon à ions pour des  profils idéaux
  • Résolution en profondeur optimale
    • Faisceau à basse énergie
    • Rotation de l'échantillon
    • Faisceau matriciel
  • Courant de haute intensité pour maximiser le débit
  • Alignement et focalisation automatiques vous assurent une totale confiance dans vos résultats

  • Nouveau système de compensation de charge pour l'analyse d'isolants
  • Spectres à haute résolution
  • Tous types d'échantillons 
  • Analyses sur petites et grandes zones
  • Aucune intervention de l'utilisateur nécessaire
 
Détails d'achat
SKU : IQLAADGAAFFACVMAHV 
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