Nouvel instrument pour l'analyse de surface, le K-Alpha est un spectromètre de photoélectrons X (XPS) monochromatisé à petit spot.
Détails sur le produit
La spectrométrie par photoélectrons X est déjà bien établie dans de nombreux domaines de la caractérisation des matériaux. L'XPS est devenu un outil essentiel pour le développement de surfaces à utilisation biomédicale et de nano-matériaux. Des performance de pointe, un coût de propriété réduit, une simplicité d'utilisation et une taille compacte font du K-Alpha la solution idéale pour de nombreux domaines existants mais aussi de nouvelles applications d'analyse de surface. Le K-Alpha est conçu pour fonctionner en environnement multi-utilisateurs et est le premier spectromètre XPS capable de proposer une automatisation complète depuis l'introduction de l'échantillon jusqu'à la production du rapport final.
Trois modes d'utilisation pour un maximum de flexibilité
Un mode totalement automatisé pour minimiser l'intervention des utilisateurs
Un mode "recette" pour l'analyse de routine
Un mode expert, totalement interactif
Le K-Alpha est capable de faire des analyses de petites comme de grandes zones. Pour l'analyse de petites zones et une cartographie XPS, le faisceau de rayons X monochromatisé est focalisé sur un petit spot permettant d'obtenir une résolution latérale de 30 µm. Le canon à ions à basse énergie fait partie intégrante du K-Alpha et permet de faire du profil en profondeur. Sa dispersion à basse énergie combinée à une rotation azimuthale permet d'obtenir des profils en profondeur d'une excellente résolution.
Configuration
XPS à microfocalisation pour des analyses rapides et efficaces
Détermination précise de l'état chimique
Sélection continue de la taille du spot
Dommage minimal pour les échantillons
Simplicité de l'alignement
Possibilité de cartographie des "linescans"
Une optique élaborée maximise la précision et l'efficacité
Lentille : haute efficacité, nouvelle conception
Analyseur d'énergie : haute résolution.
Acquisition parallèle et balayage
Acquisition snapshot pour profil rapide et imagerie
Analyse rapide
Excellent seuil de détection
Navigation précise pour une utilisation simple
Confiance dans la position.
Système d'éclairage unique
Coaxial pour les surfaces réfléchissantes
Diffus pour les sufaces brutes
Système de visualisation unique
Vue du porte-échantillons pour la navigation entre échantillons
Optique réflective pour un meilleur alignement
Réglage de la hauteur de l'échantillon
Possibilité d'annotation des zones analysées
Navigation et alignement des échantillons de type ‘Click and go’
Nouveau canon à ions pour des profils idéaux
Résolution en profondeur optimale
Faisceau à basse énergie
Rotation de l'échantillon
Faisceau matriciel
Courant de haute intensité pour maximiser le débit
Alignement et focalisation automatiques vous assurent une totale confiance dans vos résultats
Nouveau système de compensation de charge pour l'analyse d'isolants
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